Bültmann & Gerriets
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
von Peter Pichler
Verlag: Springer Vienna
Reihe: Computational Microelectronics
Hardcover
ISBN: 978-3-7091-7204-9
Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 2004
Erschienen am 01.11.2012
Sprache: Englisch
Format: 254 mm [H] x 178 mm [B] x 32 mm [T]
Gewicht: 1090 Gramm
Umfang: 588 Seiten

Preis: 320,99 €
keine Versandkosten (Inland)


Dieser Titel wird erst bei Bestellung gedruckt. Eintreffen bei uns daher ca. am 1. Juni.

Der Versand innerhalb der Stadt erfolgt in Regel am gleichen Tag.
Der Versand nach außerhalb dauert mit Post/DHL meistens 1-2 Tage.

320,99 €
merken
zum E-Book (PDF) 309,23 €
klimaneutral
Der Verlag produziert nach eigener Angabe noch nicht klimaneutral bzw. kompensiert die CO2-Emissionen aus der Produktion nicht. Daher übernehmen wir diese Kompensation durch finanzielle Förderung entsprechender Projekte. Mehr Details finden Sie in unserer Klimabilanz.
Inhaltsverzeichnis
Klappentext

Fundamental Concepts.- 1.1 Silicon and Its Imperfections.- 1.2 The Electron System.- 1.3 Phenomenological and Atomistic Approaches to Diffusion.- 1.4 Thermodynamics.- 1.5 Reaction Kinetics.- 1.6 Exchange of Matter Between Phases.- 2 Intrinsic Point Defects.- 2.1 Concentration in Thermal Equilibrium.- 2.2 Diffusion of Intrinsic Point Defects.- 2.3 Self-Diffusion and Tracer Diffusion.- 2.4 Vacancies.- 2.5 Self-Interstitials.- 2.6 Frenkel Pairs.- 2.7 Bulk Recombination and Bulk Processes.- 2.8 Surface Recombination and Surface Processes.- 2.9 Initial Conditions.- 3 Impurity Diffusion in Silicon.- 3.1 Basic Mechanisms.- 3.2 Impurity-Point-Defect Pairs.- 3.3 Diffusion of Substitutional Impurities via Mobile Complexes with Intrinsic Point Defects.- 3.4 Pair-Diffusion Models.- 3.5 Frank-Turnbull Mechanism.- 3.6 Kick-Out Mechanism.- 4 Isovalent Impurities.- 4.1 Carbon.- 4.2 Germanium.- 4.3 Tin.- 5 Dopants.- 5.1 Dopant Clusters.- 5.2 Ion Pairing.- 5.3 Boron.- 5.4 Aluminum.- 5.5 Gallium.- 5.6 Indium.- 5.7 Nitrogen.- 5.8 Phosphorus.- 5.9 Arsenic.- 5.10 Antimony.- 6 Chalcogens.- 6.1 Oxygen.- 6.2 Sulfur.- 6.3 Selenium.- 6.4 Tellurium.- 7 Halogens.- 7.1 Fluorine.- 7.2 Chlorine.- 7.3 Bromine.- List of Tables.- List of Figures.



Basically all properties of semiconductor devices are influenced by the distribution of point defects in their active areas. This book contains the first comprehensive review of the properties of intrinsic point defects, acceptor and donor impurities, isovalent atoms, chalcogens, and halogens in silicon, as well as of their complexes. Special emphasis is placed on compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behavior from experimental and theoretical investigations. In addition, the book discusses the fundamental concepts of silicon and its defects, the electron system, diffusion, thermodynamics, and reaction kinetics which form the scientific basis needed for a thorough understanding of the text. Therefore, the book is able to provide an introduction to newcomers in this field up to a comprehensive reference for experts in process technology, solid-state physics, and simulation of semiconductor processes.


andere Formate
weitere Titel der Reihe